MM3284系列是采用高耐压CMOS工艺，用于锂离子／聚合物可充电电池的过充电保护IC。
可对1～4节锂离子／锂聚合物电池的各电芯进行高精度过充电检测。
内置定时器电路，可选择过充电检测延时时间。

（1）过充电检测电压／滞后电压的选择范围与精度

●过充电检测电压	4.0V～4.5V，5mV进阶可选	精度±30mV（Topr=0～＋50℃）
●过充电滞后电压	50mV～1000mV，50mV进阶可选	精度±60mV～±200mV

（2）过充电检测延时时间的选择范围

●过充电检测延时时间可按	1ms～（1ms×2n1）＋（1ms×2n2）进行选择
	*n1·n2可从0～13中选择任意2个整数。（但n1≠n2）

（3）低消耗电流

●Typ. 2.5μA，Max. 5.0μA （Vcell=3.5V）
●Typ. 2.0μA，Max. 4.0μA （Vcell=2.3V）

（4）绝对最大额定值

●VDD端	VSS－0.3～VSS＋28V
●OV端	VSS－0.3V～VDD＋0.3V
●保存温度	－55～＋125℃
●工作环境温度	－40～＋110℃

SOT-26A SSON-6A